上海菁華紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)故障現(xiàn)象:將儀器開(kāi)機(jī),打開(kāi)儀器軟件,進(jìn)行初始化。儀器波長(zhǎng)定位失敗,自檢未能通過(guò),后續(xù)檢測(cè)無(wú)法正常進(jìn)行。
問(wèn)題分析:波長(zhǎng)定位失敗通常有2種原因:光源損壞或者老化;光路不暢,光源未能順利進(jìn)入狹縫。
故障排查:光源檢查,透過(guò)儀器散熱窗口觀察儀器內(nèi)部光路情況發(fā)現(xiàn)儀器內(nèi)部光源存在,因此上海菁華科技儀器有限公司介紹光源損壞及老化原因可以排除;光路檢査,首先對(duì)樣品室進(jìn)行檢査,放比色皿的樣品室沒(méi)有比色皿和異物,但發(fā)現(xiàn)樣品位沒(méi)有卡死在儀器固定位置,調(diào)節(jié)樣品位,并再次進(jìn)行儀器自檢,此時(shí)儀器自檢順利通過(guò),故障得到排除。
752N型紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)
故障現(xiàn)象:光度準(zhǔn)確度不準(zhǔn)。
問(wèn)題分析:試劑本身被污染;比色皿是否污染重新進(jìn)行暗電流校正;光譜帶寬是否合適;波長(zhǎng)是否準(zhǔn)確。
問(wèn)題排查:由于前兩個(gè)原因是實(shí)驗(yàn)人員最容易排查的原因,故優(yōu)先排查,若都無(wú)任何問(wèn)題,則再進(jìn)行后續(xù)排査。上海菁華引用對(duì)于試劑本身被污染,實(shí)驗(yàn)使用的重鉻酸鉀溶液是有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),現(xiàn)場(chǎng)開(kāi)封使用,因此試劑本身誤差大可以排除:對(duì)于比色皿污染,使用擦鏡紙小心擦拭干浄后重新進(jìn)行測(cè)試,發(fā)現(xiàn)光度準(zhǔn)確度仍不準(zhǔn),因此比色皿污染可以排除;對(duì)于暗電流校正,將黑體放入樣品槽中,然后選擇暗電流校正模式,重新進(jìn)行測(cè)試,發(fā)現(xiàn)光度準(zhǔn)確度在允許誤差范圍內(nèi),故障得到排除。
性能指標(biāo)：
波長(zhǎng)驅(qū)動(dòng)：自動(dòng)
波長(zhǎng)范圍：190~1100nm
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±1nm
波長(zhǎng)重復(fù)性：0.5nm
光譜帶寬：4nm
透射比準(zhǔn)確度：≤0.3%T
透射比重復(fù)性：0.1%T
透射比范圍：0~200%T
吸光度范圍：-0.4~4A
濃度顯示范圍：0~99999
雜散光：≤0.1%T
穩(wěn)定性：±0.001A/h
噪聲：0.0005A
輸出接口：RS-232
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